미르기술(대표 박찬화)은 최근 출시한 SPI(Solder Paste Inspection) 검사기를 출품한다.
SPI 검사기는 그동안 AOI(Automated Optical Inspection) 검사기를 개발하며 축적해온 미르기술의 노하우를 결집시켜 검사기 분야에서 취약했던 부분을 개선하는 한편 속도, 정밀도 등을 보다 향상시켰다.
미르기술의 SPI는 고속 검사에서 높은 신뢰도를 보여준다. 0402 칩 검출을 위한 10㎛의 분해능을 적용해 검출 성능의 정밀도를 높이는 한편, 생산성 향상을 위해 4M 카메라를 채택해 고속 검사를 실현했다.
특히 기존 검사 방식의 장단점을 분석해 더욱 향상된 알고리듬을 적용했다. 미르기술 측은 “기존의 레이저 방식 검사기는 플렉시블 PCB에서 가성 불량문제(브리지 검사)에 취약점이 나타났고 모아레 방식 검사기는 보이드에 취약한 면을 보였다”며 “이러한 취약점을 AOI 검사기에서 사용하던 다양한 알고리듬을 적용해 보완했다”고 설명했다. 고속 검사 능력은 그대로 유지하면서 실질적인 성능 향상을 이끌었다는 설명이다. 또 신제품에는 세계적으로 인정받고 있는 AOI 자동 티칭 기능 등을 활용해 보다 편리하고 정확한 티칭이 가능하도록 구현했다.
최근 이슈 중 하나인 생산 공정 관리도 이번 제품은 큰 만족도를 나타낸다. 검사기가 도출한 결과를 과학적으로 분석해 진단하고 이를 통해 신속하고 정확하게 품질을 개선하는 해법을 도출해낼 수 있기 때문이다. 미르기술은 이에 따라 AOI와 SPI를 모두 개발, 이를 종합품질관리 시스템(INTELLISYS)으로 원격에서 데이터를 통합 관리, 분석하고 해법을 제시하는 게 특징이다.
김민수기자 mimoo@etnews.co.kr
