반도체 검사장비 전문업체인 유니테스트(대표 김종현 www.uni-test.com)는 DDR3 메모리 모듈 양산용 검사장비인 ‘UNI4200’을 개발했다고 4일 밝혔다.
연말부터 본격 양산되는 DDR3 SDRAM 모듈을 최대 1.8Gbps급 속도로 검사할 수 있는 고성능 테스트 시스템이다. 대량 양산용 장비로는 세계 처음이다. DDR1·DDR2 메모리 모듈도 함께 검사할 수 있다. 특히 이 장비는 고속 메모리 디바이스의 속도·성능을 검사할 수 있다. 동시에 16개(DUTS)의 메모리 모듈을 한꺼번에 처리할 수 있다. 유니테스트는 지난 6월 DDR3 메모리 컴포넌트 검사장비인 ‘UNI5200’를 개발한데 이어 이번에 모듈 검사 장비까지 출시함으로써, 향후 DDR3 검사장비 시장을 선점할 수 있을 것으로 기대했다. 김종현 사장은 “DDR3 양산에 적합한 검사 성능을 구현한 세계 첫 제품이라는 점에서 의미가 크다”면서 “반도체 경기 불황기에 오히려 원가 경쟁력을 제공할 수 있을 것”이라고 말했다.
유니테스트는 하이닉스반도체에 장비를 공급, 양산성을 검증하고 있다.
서한기자 hseo@etnews.co.kr
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