국내연구진, 휴대폰 액정 깨짐 현상 원인 규명해

　외부 충격 등으로 인해 휴대폰이나 노트북 컴퓨터의 LCD 모니터에 검은 점들이 생겨나 모니터 선명도가 떨어지는 깨짐 현상(액정 결함 현상)의 구조적인 원인이 국내 연구진에 의해 규명됐다.

20일 김만원 고등과학원장과 최명철 씨(KAIST 박사과정)는 미국 캘리포니아 산타바바라 대학, 중국 총킹(chongqing) 대학, 독일 울름대학과 공동으로 ‘제한된 공간에서 액정결함구조의 정렬된 패턴에 대한 연구’ 논문을 발표하고 액정 결함의 구조, 크기, 배열을 제어하는 마이크로채널 개발에 성공했다고 밝혔다. 김만원 박사팀의 논문은 국제 과학 저널인 PNAS(Proceedings of National Academy of Sciences)에 게재됐다.

마이크로채널이란 반도체 식각 방법을 이용해 실리콘 웨이퍼에 새긴 마이크로미터(㎛) 크기의 깊이와 폭을 가지는 미세한 통로(channel) 형태의 구조를 가리킨다. 이를 LCD에 응용할 경우 실리콘 웨이퍼 대신 ITO 유리에 마이크로채널을 새겨 액정을 얹는 방식으로 액정 깨짐 현상 방지 기능이 있는 LCD 모니터 기판을 제작할 수 있다.

최명철 씨는 “연구를 통해 개발한 마이크로채널이 액정 결함의 구조와 크기, 배열을 제어한다는 사실을 밝혀냄으로써 향후 LCD의 액정결함을 방지할 수 있는 가능성이 열렸다”고 밝혔다.

한편 연구팀은 액정결함과 유사한 구조를 가진 약물전달체의 연구에도 이번 실험 결과를 응용해 새로운 항암치료제를 개발할 수 있다고 밝혔다.

조윤아기자@전자신문, forange@