반도체 테스터업체인 테라다인(대표 장홍조)이 복합 마이크로 컨트롤러 등의 각종 VLSI 소자를 최대 1백㎒ 속도로 검사할 수 있는 초저가형 반도체 테스터 「INTEGRA J750」모델을 국내에 공급한다.
최대 32개 소자를 병렬 테스트할 수 있는 이 장비는 최적화한 검사 프로그램을 통해 플래시 메모리가 내장된 복합 디바이스는 물론 명령어축약형(RISC) 마이크로 컨트롤러 등 최근 출시되기 시작한 각종 고집적, 복합반도체의 최종 검사에 적용 가능한 보급형 제품이다.
이 회사 장홍조 사장은 『이번에 출시된 「J750」시스템은 동일한 성능을 보유한 기존의 테스터보다 가격경쟁력 면에서 훨씬 우수하고 완벽한 복합신호검사기능 및 뛰어난 오류수정기능을 구현, 세계 주요 반도체 생산 업체들로부터 이미 10대 이상을 수주한 상태』라고 밝혔다.
<주상돈 기자>
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